短波焦平面探測器的黑體源，積分球光源和光學器件可以快速的重新配置來進行泛光照明模式、聚焦模式、準直光模式測試。MTF、串擾、點掃描和D*測試是非常和可復現的。短波焦平面探測器精密的平臺結構可以消除多個測試設備的布局和光路準直帶來的誤差。

　　

　　短波焦平面探測器用于的聚焦模式測試：

　　

　　在聚焦模式測試中，短波焦平面探測器可以將紅外照射的小孔或靶標聚焦在探測器的某個像素上面。典型的聚焦模式測試項包含串擾,點掃描、調制傳遞函數。高溫腔式黑體和低溫面源黑體都可以作為短波焦平面探測器的紅外光源，積分球光源作為可見光源。

　　

　　短波焦平面探測器用于的泛光照明模式測試：

　　

　　在泛光照明模式測試中，短波焦平面探測器用未聚焦的面源黑體或高溫腔式黑體輻射線照射探測器。泛光照明模式測試項包含響應率、噪聲、均勻性、探測靈敏度、線性度。輻射源的位置是用短波焦平面探測器帶有刻度的光學精密軌道和快速可調的運動支架來設定的，以此來達到準確控制輻照度的目的。

　　

　　短波焦平面探測器用于的準直模式測試

　　

　　泛光照明模式和聚焦模式是測試非成像光學傳感器或系統(tǒng)的。短波焦平面探測器可以通過加裝平行光管來實現成像系統(tǒng)的性能測試，這用溫差面源黑體和靶輪或腔式黑體和光闌經過平行光管投射到被測成像系統(tǒng)。準直模式測試項包括系統(tǒng)級的調制傳遞函數、信號傳遞函數、噪聲等效溫差和小可分辨溫差等，使用準直模式下的短波焦平面探測器可以省去購買獨立的紅外目標模擬器的費用。